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蔡司ROTOS粗糙度传感器让效率提升百分之88

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时间: 2020-03-13 13:43:19

  蔡司ROTOS传感器可以在一台机器上检查尺寸,形状和位置公差以及粗糙度参数。现在可以在ZEISS PRISMO和ZEISS CenterMax三坐标测量机(CMM)上实行这些操作,而不再需要单独的测针仪来捕捉更大的形状偏差。使用CMM探针上的接口可以轻松地根据需要更换传感器。根据测量机器和特定的测针,用户可以使用新传感器捕获高达0.03 μm的Ra粗糙度值。

  

 

  创新的蔡司ROTOS设计可检查几乎所有工件特征。三个可旋转的多个测针臂,使得可以测量深孔和难以到达的表面;蔡司ROTOS的开销测量也不是问题。新功能包括用于测量密封面上的粗糙度和波纹度的防滑撬针。由于ZEISS ROTOS已完全集成到Zeiss CALYPSO测量App中,并且可以在定制的专业显示器中对表面粗糙度进行分析和可视化,并在ZEISS PiWeb报告App中显示尺寸,形状和位置,因此对表面参数进行编程非常容易。

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